AFSEM

 

Opción AFM (Atomic Force Microscope ) única para SEM (Scanning Electron Microscope ). Modos AFM soportados: estástatico, dinámico, contraste de fase, conductividad, fuerza espectróspica, litografía.

 ♦ AFM extremadamente plano compatible con SEM/FIB load-lock
 ♦ Datos de AFM 3D combinados con medidas de SEM
 ♦ Fácil integración y operación
 
 
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