VeOS

Gracias a la última tecnología de los detectores basados en semiconductores diseñados específicamente para espectroscopia de emisión óptica, el espectrómetro VeOS de OBLF asegura un análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos. El espectrómetro analítico es capaz del análisis preciso de contenidos bajos de elementos ligeros como carbono y nitrógeno.
 
Beneficios:
  • La inclusión completa y flexible de todas las tareas analíticas
  • Recursos fácilmente extensibles
  • La última tecnología especialmente desarrollada de detección
  • Excelente rendimiento en el límite de detección, la precisión y la estabilidad
  • Diseño robusto, diseñado para su uso en ambientes industriales
  • Opciones de aplicaciones multi matriz, sin restricciones en la selección de los elementos de análisis
  • Detección de nitrógeno y trazas de carbono
Más información: