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La técnica de microscopía de fuerzas atómicas (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscopy) permite detectar fuerzas del orden de los nanonewtons.

A este propósito se utilizan unos microscopios mecánico-ópticos que pueden realizar dos tipos de medidas: imagen y fuerza.

Permite registrar de forma continuada la topografía de una muestra a través de una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica, que se acoplan a un listón o palanca microscópica muy flexible de tan solo unos 200 µm.

Ésta técnica es fundamental en el desarrollo de la nanotecnología, caracterización y visualización de muestras de dimensiones nanométricas

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FlexAFM de Nanosurf
Nanosurf FlexAFM
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Flex-FPM de Nanosurf
Nanosurf Flex-FPM
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AFSEM
Nanosurf AFSEM
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Nanite AFM, Nanosur, microscopía de fuerzas atómicas
Nanosurf Nanite AFM
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LensAFM, Nanosurf, microscopía de fuerzas atómicas
Nanosurf LensAFM
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Naio AFM, Nanosurf, microscopía de fuerzas atómicas, Paralab, Paralab SL, AFM
Nanosurf NaioAFM
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