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Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece una gama de analizadores XRF (fluorescencia de rayos X) especialmente diseñados para analizar el espesor y la composición de los recubrimientos que contienen elementos entre el azufre y el uranio. Pueden medir hasta 5 capas y 15 elementos de acuerdo con las normas ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 y IEC62321.

Hitachi High-Tech X-Strata920
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