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Espectrómetros de fluorescencia de rayos X portátiles (EDXRF)

Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece una gama de analizadores de fluorescencia de rayos X portátiles mediante dispersión de energía (EDXRF - Energy Dispersive X-ray Fluorescence).

La nueva generación de detectores de XRF portátil de alta resolución y alta sensibilidad, la gama X-MET, permiten analizar una amplia gama de elementos, desde sodio a uranio, en un rango de concentraciones que pueden ir desde ppm a porcentajes superiores.

La técnica de XRF presenta las siguientes ventajas: preparación de la muestra mínima o inexistente, análisis rápido y no destructivo, facilidad de uso incluso para los operarios de fábrica, no utiliza reactivos caros y / o potencialmente peligrosos.

A todas estas ventajas de XRF, hay que añadir el análisis in situ y de piezas de cualquier tamaño en el caso de XRF portátil, ya que permite desplazarse a hacer mediciones y evita tener que romper piezas grandes para analizarlas con el espectrómetro de fluorescencia de rayos X.

La XRF, mediante un espectrómetro de fluorescencia de rayos X, permite identificar aleaciones férricas y no férricas y realizar análisis de sólidos, líquidos, polvos, plásticos y films entre otros. ¡Todo ello con un solo clic!

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Hitachi High-Tech X-MET 8000
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