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En esta técnica, un haz de rayos X incide sobre la muestra en un ángulo bajo (por debajo del ángulo crítico para la reflexión total de los rayos X para el sustrato) que resulta en una reflexión prácticamente completa del haz de excitación, lejos del detector de deriva de silicio (SDD). Esto permite contribuciones de fondo drásticamente reducidas en los espectros de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía medida (EDXRF). Al excitar eficientemente los elementos de la superficie, mientras se elimina virtualmente el ruido de fondo, la técnica TXRF ofrece un rendimiento extremadamente alto de señal a ruido que resulta en una sensibilidad de medición elemental ultra-traza.

Rigaku NANOHUNTER II
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