Workshop SEM de sobremesa: calidad de imagen en menos de 1 min sin salir de tu laboratorio

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Paralab en colaboración con el centro de microscopía electrónica imparte un workshop de microscopía electrónica de barrido de sobremesa el día 27 de octubre en el salón de grados de la biblioteca de la Facultad de Ciencias Químicas de la Universidad Complutense de Madrid.

La microscopía electrónica de barrido ofrece una solución para el análisis de calidad y morfología de muestras, superficies y composición sin la destrucción de la muestra. Sin embargo, es una técnica que convencionalmente requiere de grandes equipos en entornos controlados a los que no siempre se tiene fácil acceso.

El SEM de sobremesa te brinda rapidez en la recogida de imágenes y análisis de muestras desde tu propio laboratorio. Su reducido tamaño junto a una gran robustez hace de este equipo un excelente aliado de los laboratorios tanto de investigación como industriales ya que no necesita ninguna adaptación de las instalaciones.

La gama Phenom ofrece análisis de alta calidad en menos de 1 min con equipos de tamaño reducido y muy fácil uso que no requieren de un entorno especial ya que son inmune a las vibraciones.

El equipo Phenom XL es el único equipo de sobremesa que posee un porta-muestras de gran tamaño, 10 x 10 x 4 cm, que permite la medida de muestras voluminosas o la introducción de un mayor número de muestras con la posibilidad de automatización de las medidas.

Calidad de imagen comparable a un equipo convencional gracias a su fuente única de CeB6 que proporciona x10 veces más brillo alcanzando una excelente resolución <10 nm.

Además, la opción de varios valores corriente, así como de bajo, medio y alto vacío evita en muchas ocasiones el pretratamiento de muestra.

La posibilidad de situarlo en el mismo lugar de trabajo junto a su rápida carga de muestra (< 1min) combinada con su sencillez hacen que sea una herramienta rápida de análisis excelente para todo tipo de usuarios, desde los más principiantes a los más expertos.

Te invitamos asistir al Workshop SEM de sobremesa y  comprobar la versatilidad de un equipo como Phenom XL G2 el día 27 de octubre en el Salón de grados de la biblioteca de la Facultad de Ciencias Químicas de la Universidad Complutense de Madrid.

Trae tu muestra y compruébalo tú mismo

 

Programa | Sesión de mañana (9:30-13:30)

 

9:30-11:00	Introducción a la microscopía electrónica de barrido.
	Tipos de señales y detectores
	Caracterización de distintos tipos de muestras. Aplicaciones
11:00-11:30	Coffee break
11:30-11:45	Medida de muestra demo
11:45-13:30	Medidas de muestras de asistentes y resolución de cuestiones