SEM de sobremesa: explorando materiales
Inscribete aquí!
💡 Barcelona
- Miércoles, 28 de Junio: Aula Núria Cortadellas de los CCiTUB
Paralab en colaboración con el departamento de microscopía electrónica del CCiTUB imparte un workshop de microscopía electrónica de barrido de sobremesa el día 28 de Junio en la Aula Núria Cortadellas de los CCiTUB.
La microscopía electrónica de barrido es una técnica con amplio potencial, ya que ofrece una rápida solución para el análisis de estructura, calidad y morfología de muestras y superficies así como composición sin la destrucción de la muestra. Esta técnica, sin embargo, convencionalmente requiere de grandes equipos en entornos controlados, no siempre de fácil acceso.
El SEM de sobremesa te brinda rapidez para la toma de imágenes, medida y análisis de composición muestras desde tu propio laboratorio. Su reducido tamaño junto a una gran robustez hace de este equipo un excelente aliado de los laboratorios tanto de investigación como industriales ya que no necesita ninguna adaptación de las instalaciones.
La gama Phenom de ThermoFisher ofrece análisis de alta calidad en menos de 1 min con equipos reducidos, de alta calidad y muy fácil uso que no requieren de un entorno especial ya que son inmune a las vibraciones.
Ofrecen calidad de imagen comparable a un equipo convencional gracias a su fuente única de CeB6 que proporciona x10 veces más brillo alcanzando una excelente resolución <6 nm.
Además, la opción de distintos voltajes de aceleración del haz, así como de bajo, medio y alto vacío evita en muchas ocasiones el pretratamiento de muestra.
La posibilidad de instalarlo en el lugar de trabajo junto a su rápida carga de muestra (< 1min) combinada con su sencillez hacen que sea una herramienta rápida de análisis de alta calidad y para todo tipo de usuarios, desde los más principiantes a los más expertos.
Te invitamos asistir al Workshop SEM de sobremesa y comprobar la versatilidad de un equipo como Phenom ProX G6.
Trae tu muestra y compruébalo tú mismo
Programa | Sesión de mañana (9:30-13:30)
9:30-10:30 |
Introducción a la microscopía electrónica de barrido. |
| Tipos de señales y detectores | |
| Caracterización de distintos tipos de muestras. Aplicaciones. | |
10:30-11:00 |
Coffee break |
11:00-11:30 |
Medida de muestra demo |
11:30-13:30 |
Medidas de muestras de asistentes y resolución de cuestiones |