ZSX Primus IV
Puesto que tiene un espectrómetro de fluorescencia de rayos X que se dispersa a longitudes de onda secuenciales por encima del tubo (WDXRF), el nuevo Rigaku ZSX Primus IV proporciona una determinación cuantitativa rápida de elementos atómicos mayores y menores, desde berilio (Be) hasta uranio (U), en una amplia variedad de tipos de muestras – con estándares mínimos.
Nuevo software XRF del sistema especializado ZSX Guidance
ZSX Guidance apoya todos los aspectos de la medición y el análisis de datos de XRF. El software ZSX Guidance, con experiencia en XRF y el conocimiento de expertos cualificados, se encarga de las configuraciones más sofisticadas. Los usuarios sólo tienen que introducir la información básica sobre las muestras, los componentes de análisis y la composición estándar. Las líneas de medición con menos solapamiento, los fondos óptimos y los parámetros de corrección (incluidos los solapamientos de líneas) se definen automáticamente con la ayuda de espectros cualitativos.
Excepcional rendimiento del elemento de luz XRF con óptica invertida para una fiabilidad superior
El ZSX Primus IV presenta una innovadora configuración óptica arriba. La geometría óptica anterior elimina las preocupaciones de limpieza y aumenta el tiempo de funcionamiento. De esta manera el producto tiene un rendimiento superior con flexibilidad para analizar las muestras más complejas. El espectrómetro WDXRF ZSX Primus IV tiene un tubo de 30 micras, el tubo con ventana más delgado disponible en la industria, para límites excepcionales de detección de elementos ligeros (Z bajo).
Mapeo y análisis de XRF multipunto
Combinado con el más avanzado paquete de mapeo para detectar homogeneidad e inclusiones, el ZSX Primus IV permite una fácil y detallada investigación espectrométrica XRF de muestras que presentan información analítica que no es fácil de obtener por otras metodologías analíticas. El análisis multipunto ayuda a eliminar los errores de muestreo en materiales no homogéneos.
Parámetros clave de SQX con el software EZ-scan
El EZ-scan permite a los usuarios realizar análisis XRF elemental de muestras desconocidas sin ninguna configuración previa, esta característica ahorra tiempo. Combinado con el software de parámetros fundamentales SQX, proporciona los resultados de XRF más precisos y rápidos posibles. SQX es capaz de corregir automáticamente todos los efectos de las matrices, incluyendo las superposiciones de líneas. SQX también puede corregir el efecto de excitación secundaria mediante fotelétron (elementos ligeros y ultraligeros), atmósferas variadas, impurezas y diferentes tamaños de muestra. Una mayor precisión es posible gracias a la biblioteca correspondiente y a los programas específicos de análisis de escaneo.
Características:
- Análisis de elementos desde Be a U
- Software de sistema especializado ZSX Guidance
- Analizador digital multicanal (D-MCA)
- Interfaz de EZ Analysis para mediciones de rutina
- El tubo sobre la óptica minimiza los problemas de contaminación
- El tamaño pequeño utiliza menos espacio valioso en el laboratorio
- Microanálisis para analizar muestras tan pequeñas como 500 µm
- El tubo de 30μ ofrece un rendimiento superior del elemento de peso ligero
- Recurso cartográfico para la topografía / distribución elemental
- El sellado con helio significa que la óptica está siempre al vacío
