VeOS

Con una tecnología de detección de vanguardia basada en detectores de semiconductores especialmente desarrollados para espectroscopía de emisión, el espectrómetro OES de Chispa VeOS de OBLF permite un análisis versátil, flexible y rápido de todos los materiales metálicos comunes. El espectro analítico también incluye el análisis preciso de elementos de longitud de onda corta como nitrógeno o carbono bajo.

 

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Características:

  • Inclusión completa y flexible de todas las tareas analíticas
  • Características fácilmente extensibles
  • La última tecnología de detectores especialmente desarrollada
  • Excelente rendimiento con respecto al límite de detección, precisión y estabilidad
  • Diseño robusto para uso en entornos complicados
  • Las opciones de aplicación de matriz múltiple más completas sin restricciones con respecto a la selección de elementos para el análisis
  • Detección precisa de N y trazas de carbono (ULC)

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