Las mediciones se pueden realizar de acuerdo con los métodos de prueba internacionales, ISO 3497 y ASTM B568. El FT160 utiliza el detector de deriva de silicio (SDD) de última generación combinado con tecnología policapilar para proporcionar la máxima resolución y sensibilidad para áreas de medición pequeñas.
El FT160 utiliza la técnica analítica no destructiva de fluorescencia de rayos X dispersiva de energía (EDXRF) para generar un espectro de rayos X de la muestra.
El FT160 es un analizador XRF para control de calidad y pruebas de validación de microspot de material y espesor de recubrimiento. Esto, facilita la obtención de resultados. La gran mesa de muestras, la amplia apertura de la puerta y la ventana de observación facilitan la carga de muestras de diferentes tamaños. Así como, la concentración en ciertos puntos de medición.
Características:
- Óptica de enfoque de rayos X policapilares: Lograr una medición altamente precisa irradiando rayos X primarios de alta luminancia al área de aproximadamente 30 μmφ.
- Silicon Drift Detector (SDD) como sistema de detección: El detector de deriva de silicio de alta tasa de conteo permite una medición altamente precisa.
- Función de asistente de medición automática: La función precisa de medición automática de múltiples puntos ayuda a la alta eficiencia de la medición.
- Operación fácil habilitada con interfaz simple y función de ayuda del software: Daily routine measurements can be conducted easily by using registered application-like recipe.
- Construido pensando en la seguridad del usuario: La adopción de una carcasa cerrada minimiza en gran medida el riesgo de fugas de rayos X.
