X-Strata 920

Analizadores de materiales y espesores de recubrimiento Microspot XRF para un rápido control de calidad y pruebas de validación. Esto facilita obtener los resultados correctos en segundos.

El análisis de espesor y materiales de revestimiento basado en fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria. Esta ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo. Además, requiere poca o ninguna preparación de muestra. Por otro lado, es capaz de analizar sólidos o líquidos en un amplio rango de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica.

Hitachi High-Tech Analytical Science ofrece una gama de analizadores de recubrimientos con XRF (fluorescencia de rayos X). Especialmente diseñados para el análisis de espesores y composición química de recubrimientos, en un rango que abarca desde el Azufre (S) hasta el Uranio (U). Es posible medir hasta 5 capas y 15 elementos, de acuerdo con las normas ISO 3497, ASTM B568. Y de acuerdo con DIN 50987 y IEC6232.

El analizador XRF de sobremesa X-Strata920 facilita la obtención de resultados óptimos en segundos. Esto se debe al microspot XRF de materiales y el espesor del revestimiento del microspot XRF. Utilizados para un control de calidad rápido y pruebas de validación.

El análisis de espesor y los materiales de recubrimiento basados ​​en fluorescencia de rayos X (XRF) son mucho más fáciles, más rápidos y no destructivos. Además, requieren poca o ninguna preparación de la muestra. Por otro lado, son capaces de analizar sólidos o líquidos en una amplia variedad de elementos, desde aluminio (13) a uranio (92).

El X-Strata920 se puede configurar con 3 bases diferentes para analizar una gran variedad de formas y tamaños de muestras.

La base estándar y la amplia permiten un posicionamiento rápido de muestras. Por ello, se utiliza piezas pequeñas, largas o delgadas. Gracias a la flexibilidad del Mini-well permite analizar muestras más altas. Al elegir la base Motorizada, puede medir automáticamente múltiples muestras o múltiples áreas de una muestra a la vez.