Phenom ProX Desktop SEM

SEM de alto rendimiento con rango de aumento hasta 150.000x y tensión de aceleración entre 5kV y 15kV. Detector EDS completamente integrado y detector SED opcional. Funcionamiento en alto y bajo vacío, permitiendo el análisis de muestras conductoras y no conductoras sin necesidad de preparación.

El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) Phenom ProX está basado en la 5ª generación de SEM de sobremesa, con un rendimiento mejorado en la imagen y el análisis. Con el Phenom ProX Benchtop SEM se pueden examinar físicamente las estructuras de las muestras y determinar su composición. Además del análisis de puntos, el software opcional de Mapeo Elemental y Escaneo de Línea permite un análisis más profundo de la distribución de los elementos.

Los microscopios Phenom SEM son muy intuitivos, rápidos en la entrega de resultados y desarrollados con los más altos estándares de calidad. Teniendo en cuenta estos principios fundamentales, el sistema de espectroscopia Phenom ProX fue desarrollado con soluciones de imagen y análisis de última generación.

En comparación con su predecesor, la Generación 5 Phenom ProX SEM tiene al menos un 20% más de resolución y la experiencia del usuario es aún mejor para analizar una gama más amplia de aplicaciones, incluyendo muestras muy sensibles que pueden ser dañadas por los haces. La rápida identificación de los diferentes elementos químicos en una muestra se logra con las características del Software de Identificación de Elementos (EID) y un Espectrómetro de Energía Dispersiva (EDS) totalmente integrado.