Simultix 15

Durante más de 40 años, la Espectrometría de Rayos X de Dispersión por Longitud de Onda (WDXRF) de Rigaku, Silmutix 15 ha sido ampliamente utilizada como una herramienta analítica elemental para el control de procesos en industrias que requieren alta productividad y precisión, como la del acero y el cemento.

Junto con el progreso tecnológico, a lo largo de los años, las necesidades de los clientes también han avanzado y se han diversificado. El analizador elemental Simultix 15 fue desarrollado para satisfacer estas necesidades. Ofrece una mejora significativa en el rendimiento, las funciones y la facilidad de uso. El compacto e inteligente Simultix 15 es una potente herramienta analítica para el análisis elemental que demuestra un rendimiento superior en muchos sectores industriales.
XRF para un análisis elemental rápido y preciso
Analiza el berilio (Be) a través del uranio (U) en casi cualquier matriz de muestra. Las métricas más importantes para el control de procesos automatizados son la precisión, la exactitud y el rendimiento de las muestras. Con hasta 30 (y opcionalmente 40) canales elementales discretos y optimizados y 4 kW (u opcionalmente 3 kW) de potencia de tubo de rayos X, Simultix 15 ofrece una velocidad y sensibilidad analítica sin igual.
Junto con un software potente y fácil de usar con amplias capacidades de reducción de datos y funcionalidad de mantenimiento, este instrumento es la herramienta de metrología de análisis elemental perfecta.
Análisis elemental por XRF con automatización completa
Para aplicaciones de alto rendimiento, la automatización es un requisito fundamental. El espectrómetro Rigaku WDXRF, Simultix 15, puede ser equipado con un cambiador automático de muestras de 48 posiciones (ASC). Para una automatización completa, la unidad de carga de muestras opcional proporciona una alimentación lateral desde la cinta derecha o izquierda de un sistema de automatización de preparación de muestras de terceros.
Análisis elemental simultáneo de WDXRF
A diferencia de la instrumentación secuencial más común de WDXRF, en la que los elementos se miden uno tras otro utilizando un goniómetro de escaneo equipado con un mecanismo de análisis de dispositivo de cambio de cristal, WDXRF acelera simultáneamente el proceso de medición. Cada espectrómetro Rigaku Simultix 15 está personalizado para aplicaciones específicas de análisis elemental con un conjunto de canales fijos optimizados y discretos para los elementos de interés. Todos los canales miden simultáneamente – sin partes móviles, sin retraso y sin compromiso. Esto hace que WDXRF sea simultáneamente la mejor solución en términos de tiempo de resultado, precisión, fiabilidad, bajo coste por análisis y longevidad del instrumento. Para la flexibilidad adicional, el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda puede equiparse opcionalmente con un goniómetro de barrido para el análisis de otros elementos, así como con canales XRD para el análisis de fase.

