SmartLab SE
SmartLab SE es un sistema de difracción de rayos X de alta resolución con montaje de muestra horizontal y geometría θ/θ. El sistema se caracteriza por la enorme variedad de sistemas/geometrías ópticas en las que puede ser configurado sustituyendo las unidades ópticas y por el uso de una óptica de haz cruzado (DBO) que consiste en un espejo parabólico multicapa adecuado para mediciones de alta resolución, tanto en modo de enfoque Bragg-Brentano como en forma de haz paralelo para la recogida de datos en polvos y películas finas respectivamente.
El software Smartlab Studio Guidance hace que el control del difractómetro SmartLab SE sea accesible a todos los usuarios gracias a su instructivo flujo de trabajo durante la configuración de una experiencia.
Rápido, preciso y fácil de usar, el software Smartlab Guía de Estudio asesora al operador en todos los pasos, lo que permite alcanzar las condiciones y configuraciones óptimas para cada medición, dando las indicaciones necesarias que permiten a cualquier operador, con poca experiencia en determinadas aplicaciones, ser totalmente autónomo en sus mediciones.
Por otra parte, SmartLab SE puede ser operado por usuarios con mucha experiencia en difracción, ya que todos los parámetros pueden ser modificados por el operador, logrando crear un setup particular, si es necesario.
Un XRD inteligente
Uno de los puntos fuertes de este sistema de difracción es la facilidad de operación por parte de los usuarios sin ninguna experiencia en la recolección y análisis de datos de difracción. Con el sistema de Guía de Estudio Smartlab, el usuario elige el objetivo de la medición (si desea la identificación de fase, análisis cuantitativo, mapas de espacio recíproco, etc.), y el sistema de Guía de Estudio Smartlab guiará al usuario desde la preparación del equipo, incluyendo la elección de la óptica a utilizar, los rangos angulares, luego la mejor geometría de haz (Bragg-Brentano o haz paralelo), toda la alineación del sistema (si es necesario), incluyendo la más importante, la alineación automática de la muestra.
HyPix-400: detector 2D de última generación
SmartLab SE tiene un detector de píxeles de semiconductores híbrido (la misma tecnología utilizada en el sincrotrón), desarrollado específicamente para difractómetros de rayos X polivalentes. Tiene una gran área activa, una alta resolución angular y un alto rango dinámico que permite una solución perfecta y asequible del detector 2D para una amplia variedad de aplicaciones, incluyendo la difracción de polvo y la película fina. El detector de cinta de silicio D/teX Ultra 250 también está disponible como detector estándar si se desea.
Alineación automática para maximizar el tiempo de actividad
La configuración óptica en SmartLab SE es totalmente automática. Desde la altura del tubo hasta la alineación del monocromador, toda la alineación óptica se realiza automáticamente, controlada sólo a través de un ordenador. Esta característica reduce drásticamente el tiempo de inactividad y el costo asociado, permitiendo asegurar que el equipo esté alineado de manera perpetua.
Características:
- Software SmartLab Studio II basado en una nueva plataforma modular;
- La óptica de haces cruzados cambia entre la geometría de haces Bragg-Brentano y la de haces paralelos sin necesidad de modificar el sistema óptico;
- El detector HyPix-400 2D permite cambiar sin problemas entre los modos de detección 0D, 1D y 2D, dependiendo del tipo de aplicación;
- El detector D/TeX Ultra 250 1D acelera la difracción de polvo por un factor de 250 a la velocidad y proporciona una resolución de energía ajustable de aproximadamente el 20% o el 4% dependiendo del tipo de muestra;
- El software de guía inteligente integrado permite mediciones totalmente automatizadas, incluyendo la alineación óptica y de muestras;
- Las ópticas permanentemente alineadas maximizan el tiempo de actividad del equipo y minimizan los costes asociados.
