El XtaLAB Synergy-ED fue creado para responder a la creciente necesidad de investigar la estrutura de muestras cada vez más pequeñas. Con la cristalografía de rayos X, la dimensión más pequeña posible de cristal es de 1 µm, y unicamente cuando se utilizan las fuentes de rayos X más brillantes y detectores libres de ruido. Sin embargo, en los últimos años ha aumentado la necesidad de analizar la estructura de sustancias que sólo forman microcristales, cristales de unos cientos de nanómetros o menos. En los últimos años se ha desarrollado un nuevo método analítico, MicroED, que utiliza la difracción de electrones en un microscopio electrónico TEM para medir estructuras moleculares tridimensionales de materiales nanocristalinos.

Ventajas

• Difractómetro de electrones totalmente integrado que proporciona un flujo de trabajo continuo desde la recogida de datos hasta la determinación de estructuras moleculares tridimensionales.
• Aumenta las posibilidades para investigar muestras nanocristalinas gracias a la capacidad de la difracción de electrones para medir cristales de sólo unos cientos de nanómetros o menos de tamaño.
• Evita la necesidad de compartir el equipo con microscopistas, lo que acelera el trabajo, ya que cambiar la configuración de un microscopio entre imagen y difracción puede llevar mucho tiempo, lo que hace que a veces sea difícil compartir un instrumento.
• Cualquier cristalógrafo de rayos X lo encontrará intuitivo sin tener que convertirse en un experto en microscopía.

XtaLAB Synergy-ED es un difractómetro de electrones que funciona con el mismo software de control que emplean los difractómetros de rayos X de Rigaku e incluye el processo completamente integrado que va desde la selección de la muestra y la medición de su difracción hasta el procesamiento de los datos y la solución de la estructura. Este instrumento puede instalarse fácilmente en un laboratorio de cristalografía ya existente, donde los investigadores y estudiantes podrán dominar fácilmente la técnica MicroED ya que el flujo de trabajo del software es el mismo que el de un difractómetro de rayos X. Contar con un instrumento de este tipo instalado en una instalación de rayos X permite determinar de forma inmediata la estructura de materiales que sólo forman nanocristales.